LCR全自动闭环检测系统是一套以计算机控制为核心的LCR温度特性、频率特性的多通道测试系统。可实现温度控制、频率变化、通道切换、数据处理的全自动化。克服了传统手工测试方式费时、重复性差、数据统计分析困难、测试环境难以控制的缺点，达到了价廉物美的国产化目的。

LCR全自动闭环检测系统是利用自行设计的集成控制模块将一台程控型LCR测试仪和一台程控高低温箱连接起来，由数字计算机统一控制来测量电子元件在不同温度和频率下的特性。各部分主要功能为：

高低温箱：根据计算机的控制信号调节箱内温度达到特定值。

LCR测试仪：从计算机的控制信号中获得待测频率值，它将测量电容和电感的频率及损耗并把数据返回计算机。

集成控制模块：提供16个样品通道，根据计算机控制信号，自动转换测量通道，使得仪器能够对一批电子器件进行一次性自动测量。

数字计算机：系统控制中心及数据管理、分析中心。

本项目已研制出样机，投入试用一年。从试用效果来看能够达到国外同类产品水平。该检测系统具有全自动温度频率控制、使各独立设备协同工作、各通道自动切换进行数据采集和处理全自动的特点，技术上已基本成熟。

本项目适用于电子元器件性能的测定和分析，能广泛应用于科研、检测、工厂等部门的电子元器件研制和生产。

本项目可以作为产品进行开发，其投产条件要求不高，但有较广的应用范围。特别是，随着电子元器件研制和生产的需求越来越大，无论在实验室还是在工厂生产现场，都需要进行大量的电子元器件的例行性能检测，采用进口全自动检测系统，达到自动控制检测同等功能和性能，其价格十分昂贵。目前，该系统的研制属于国产化的急需产品，可替代国外的低成本产品，有一定的预期需求量，其投入可获得可观的回报。

本项目目前希望的合作方式是技术转让或联合开发生产。